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當前位置：首頁產品中心三維X射線顯微鏡（XRM）D8雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測
產品簡介

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以進行雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測。

產品型號：
更新時間：2024-09-12
廠商性質：代理商
訪問量：2518
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雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

項目

細則

收費

說明

室溫測試

整套數據3h以內；一般要求警惕尺寸大于50μm；整套數據 3h 以上，另需額 外收費 150 元/時

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1.長時間數據手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價格需面議

結構解析

解析結構；孿晶、復雜結 構、不對稱單元內非氫原 子個數大于 100 等價格面議 

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低溫耗材

低溫測試時使用液氮

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晶胞參數確定

室溫測定

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晶向確定

室溫測定

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粉末衍射

室溫測定單一譜圖，每樣 每次長掃描 15min，延 長時間按 50 元/15min（校 外按 100 元/15min）計， 不足 15min 按 15min 計

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廣角散射

每 樣 每 次 長 掃 描 15min，延長時間按 50 元 /15min（校外按 100 元 /15min）計，不足 15min 按 15min 計

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雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。 

 

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